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東莞市華測儀器設備有限公司
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電子郵箱： huace@dghuace.com
公司網址：www.qhqtcqkj.com
東莞市寮步鎮莞樟路寮步段1003號
設備用途：
用測試各類電子電工產品、零部件、材料在快速的經過極高溫和極低溫的熱脹冷縮引起的化學和物理變化對其造成的損傷，真實的模擬其環境變化，檢驗其可靠性和穩定性，找出缺陷，以便改進。
試驗參考標準：
GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009溫度沖擊試驗
GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗
GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則
GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件
設備特點：
*箱體鈑金：
內箱：304不銹鋼或鏡面不銹鋼；
外箱：304不銹鋼或冷軋鋼板雙面烤箱，任由客戶選配，可滿足不同試驗室風格要求；
保溫層：高密度聚氨酯+玻璃纖維棉整體發泡，厚度100mm；
*箱體結構：
設備為二箱式，一箱為熱沖擊區，二箱為冷沖擊區，通過提籃上升和降落將樣品進行高溫和低溫度沖擊；
*制冷系統四大件：
壓縮機：根據客戶溫度條件訂制法國泰康、德國比澤爾、美國谷輪、德國博客等國際知名高品質壓縮機；
冷凝器：根據客戶溫度條件選用國際知名品牌特殊訂制；
蒸發器：根據客戶溫度條件選用國際知名品牌特殊訂制；
節流閥：意大利卡士妥或美國Sporlan；
*電控系統：
繼電器、接觸器：施耐德或歐姆龍；
發熱絲：鈦合金特殊訂制；
控制器：進口工業級微電腦控制器，抗積分飽和PID，BTC平衡調溫控制方式，BTHC平衡調溫調濕控制方式；
設備規格：
設備型號
內箱尺寸(單位：cm)
外箱尺寸(單位：cm)
溫度沖擊范圍
HC-H-50
W35×H40×D36
W110×H190×D142
高溫沖擊：+50℃~+150℃(最高到200℃)
低溫沖擊：A：-10℃~-40℃
B：-10℃~-55℃
C：-10℃~-65℃
HC-H-80
W50×H40×D40
W125×H190×D148
HC-H-150
W60×H50×D50
W135×H200×D158
HC-H-252
W70×H60×D60
W145×H210×D168
HC-H-512
W80×H80×D80
W155×H230×D188
HC-H-1000
W100×H100×D100
W275×H250×D208
HC-H-
按客戶要求訂制
按客戶要求訂制
性能參數：
溫度分辨率
0.1℃
溫度偏差
±2℃ 出風口處測量
溫度均勻度
±3℃ 空載測量
溫度波動度
±1℃
溫度范圍
-65℃～+150℃(最高到+200℃)
測試區溫度范圍
溫度沖擊模式
高溫：+60℃～+150℃，測試時間：≥25min以上
低溫：-10℃～-65℃，測試時間：≥25min以上
蓄熱區升溫時間
自常溫到+220℃,約40分鐘
蓄冷區降溫時間
自常溫到-75℃,約65分鐘
溫度恢復時間
吊蘭移動時間：10秒以內
測試區溫度恢復時間：5分鐘
沖擊過程（如圖所示）
綠色為高溫區儲熱曲線， 紅色為試驗區沖擊曲線， 藍色為低溫區儲冷曲線
設備冷卻方式
風冷式或水冷式（水冷式需使用到冷卻循環水或安裝冷卻水塔）
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